Ал307Лм. Достижения Лаборатории многофункциональных композиционных материалов в области полупроводниковых технологий

Какие фундаментальные открытия были сделаны в области фотопроводимости и люминесценции полупроводников. Как исследования дефектов и примесей повлияли на развитие оптоэлектроники. Какие новые методы и технологии были разработаны для создания полупроводниковых приборов.

Фундаментальные исследования фотопроводимости и люминесценции полупроводников

Лаборатория многофункциональных композиционных материалов внесла значительный вклад в понимание физических процессов в полупроводниках. Одним из ключевых достижений стала разработка комплекса методов совместного изучения фотопроводимости и рекомбинационной люминесценции. Это позволило исследовать стационарные и кинетические характеристики данных явлений.

Впервые были определены все параметры центров фоточувствительности для важнейших полупроводников групп A2B6, A3B5 и других. К этим параметрам относятся:

• Концентрация центров
• Энергетические позиции в запрещенной зоне
• Сечения захвата электронов и дырок
• Энергия фотонов для переходов электронов
• Степень электрон-фононного взаимодействия

Данные результаты легли в основу разработки новых типов фотоприемников и преобразователей для широкого диапазона электромагнитного спектра. За эти исследования М.К. Шейнкман был удостоен Государственной премии СССР в области науки и техники в 1984 году.

Открытие новых механизмов рекомбинации в полупроводниках

Учеными лаборатории был теоретически предложен и экспериментально обнаружен новый механизм безызлучательной рекомбинации в полупроводниках. Он основан на передаче энергии, выделяющейся при захвате носителя центром, соседнему носителю заряда. Этот механизм позволил объяснить ряд явлений взаимодействия примесей в полупроводниковых материалах.

Также была разработана физическая модель гетерогенных систем, объясняющая явления долговременного релаксационного тока (остаточной проводимости) в различных полупроводниках. Это открыло новые возможности для анализа электрофизических свойств неоднородных полупроводниковых структур.

Исследование процессов деградации в полупроводниковых приборах

Важным направлением работы лаборатории стало изучение процессов деградации активных элементов полупроводниковых приборов. В частности, были установлены механизмы деградации:

• Светодиодов на основе GaAs:Si и GaP:N
• Лазеров с электронной накачкой на основе кристаллов CdS

Выявлены типы и механизмы рекомбинационно-стимулированных реакций дефектов, вызывающих ухудшение характеристик светоизлучающих приборов. Определено влияние технологии выращивания кристаллов на порог поверхностного разрушения лазерных экранов.

Эти исследования позволили разработать методы повышения надежности и долговечности оптоэлектронных приборов.

Разработка новых методов исследования и модификации полупроводников

Ученые лаборатории создали ряд оригинальных методов изучения и направленного изменения свойств полупроводниковых материалов:

• Комплекс поляризационных методов исследования спектров люминесценции и фототокового возбуждения
• Методы изучения процессов трансформации дефектов при освещении, рентгеновском облучении и инжекции носителей
• Электродиффузионный метод исследования влияния локальных центров на фотоэлектрические и люминесцентные свойства кристаллов
• Способы регулирования и стабилизации сверхпроводимости органических проводников

Эти методики позволили получить новую информацию о природе и поведении дефектов и примесей в полупроводниках, а также целенаправленно модифицировать их свойства.

Исследования квантоворазмерных структур и наноматериалов

С 1994 года в лаборатории начались систематические исследования квантоворазмерных структур на основе материалов IV группы, соединений A2B6 и A3B5. Изучались:

• Пористый кремний, полученный химическим и анодным травлением
• Слои кремнезема и оксида алюминия с внедренными нанокристаллами кремния
• Структуры с квантовыми ямами и квантовыми точками
• Системы с коллоидными квантовыми точками A2B6

Были установлены механизмы люминесценции в этих системах, исследованы процессы формирования наноструктур и их взаимодействия с матрицей. Предложены способы управления оптическими свойствами наноструктурированных материалов.

Разработка новых полупроводниковых материалов и технологий

На основе фундаментальных исследований в лаборатории были созданы новые материалы и технологии для полупроводниковой электроники:

• Метод газофазного синтеза монокристаллов A2B6 с совершенной структурой
• Способы повышения светочувствительности полупроводниковых соединений A2B6
• Технологии изготовления омических контактов и фоточувствительных элементов
• Методы получения твердых растворов монохалькогенидов металлов II группы
• Технология выращивания монокристаллов CdS с уникально высокой оптической прочностью для лазерных экранов

Многие из этих разработок были внедрены в промышленное производство и использовались при создании фотоприемников, светодиодов, солнечных элементов и других приборов.

Разработка методов контроля качества полупроводниковых структур

Важным практическим результатом исследований стало создание новых методов контроля качества и прогнозирования надежности полупроводниковых приборов:

• Экспресс-метод контроля качества фотоэлектрических устройств на основе полупроводников A2B6
• Бесконтактный неразрушающий метод контроля распределения концентрации носителей и примесей в объемных кристаллах и эпитаксиальных пленках SiC
• Способ низкотемпературного экспресс-легирования и очистки кристаллов A2B6

Эти методики позволили повысить качество и надежность полупроводниковых приборов, оптимизировать технологические процессы их производства.

Вклад в развитие физики полупроводников и оптоэлектроники

Исследования, проведенные в Лаборатории многофункциональных композиционных материалов, внесли значительный вклад в развитие физики полупроводников и оптоэлектроники. Основные достижения включают:

• Углубление понимания механизмов фотопроводимости и люминесценции
• Открытие новых типов рекомбинационных процессов
• Выявление механизмов деградации полупроводниковых приборов
• Создание новых методов исследования и модификации свойств полупроводников
• Разработку технологий получения материалов с заданными свойствами
• Создание методов контроля качества полупроводниковых структур

Эти результаты способствовали созданию новых типов полупроводниковых приборов, повышению их эффективности и надежности. Многие разработки лаборатории нашли применение в промышленности и продолжают использоваться при создании современных оптоэлектронных устройств.

Оптоэлектронные приборы отечественные.

Выберите категорию:

Все Диоды, диодные мосты импорт Диоды, диодные мосты отечественные » Диоды со склада » Диодные мосты. Тиристоры, симисторы, модули тиристорные Стабилитроны Вставки плавкие керамика Вставки плавкие стекло Конденсаторы » Конденсаторы электролитические. »» Конденсаторы электролитические 1 мкф »» Конденсаторы электролитические 2,2 мкф »» Конденсаторы электролитические 10 мкФ »» Конденсаторы электролитические 22 мкФ »» Конденсаторы электролитические 47 мкф »» Конденсаторы электролитические 100 мкф »» Конденсаторы электролитические 220 мкФ »» Конденсаторы электролитические 470 мкФ »» Конденсаторы электролитические 1000 мкФ »» Конденсаторы электролитические 2200 мкФ »» Конденсаторы электролитические 3300 мкФ »» Конденсаторы электролитические 4700 мкф »» Конденсатор электролитический 4,7 мкФ » Конденсаторы пленочные » Конденсаторы керамические » Конденсаторы металлобумажные.

» Чип конденсаторы керамические Варисторы, терморезисторы, кварцы, предохранители самовостаналивающиеся Резисторы » Резисторы постоянные »» Резисторы пленочные »»» Резисторы пленочные 0,125 Вт »»» Резисторы пленочные 0,5 Вт »»» Резисторы пленочные 1 Вт »»» Резисторы пленочные 2 Вт »»» Резисторы пленочные 0,25 Вт »» Резисторы углеродистые »» Резисторы проволочные »» Чип резисторы »»» ЧИП резисторы 0805 »»» Чип резисторы 1206 »»» Чип резисторы 0603 »» Резисторы цементные мощные »» Наборы резисторов » Резисторы переменные регулировочные » Резисторы переменные подстроечные Разъемы,тумблера, индикаторы,дисплеи Автоматические выключатели, реле, контакторы » Реле » Автоматические выключатели отечественные » Контакторы. Пускатели магнитные. »» Контакторы.Пускатели магнитные.Импортные » Автоматические выключатели импортные Транзисторы » Транзисторы импортные » Транзисторы отечественные Микросхемы » Микросхемы импортные »» Микросхемы логические »»» Микросхемы драйверов »» Микроконтроллеры »» Микросхемы аналоговые »» Микросхемы памяти »» Микросхемы приемопередатчиков »» Микросхемы таймеров, микросхемы часов »» Микросхемы стабилизаторов напряжения »» Микросхемы АЦП .Микросхемы ЦАП » Микросхемы отчественные »» Микросхемы логические »»» Микросхемы серии К561 »»» Микросхемы серии КР 1533 »»» Микросхемы серии ЭКР 1554 »» Микросхемы памяти »» Микросхемы стабилизаторов напряжения »» Микросхемы микроконтроллеров »» Микросхемы таймеров, микросхемы часов Материалы и оборудование для пайки и электромонтажа Динамические головки, головки громкоговорителя Микрофоны,звукоизлучатели Оптоэлектроника импортная » Оптопары » Светодиоды видимого спектра » Источники питания, драйверы светодиодов Оптоэлектронные приборы отечественные FINDER. Промышленные реле,интерфейсные модули,таймеры. SIEMENS.Контакторы Siemens Sirius 3RT, автоматические выключатели Siemens Sirius 3RV ABB. АВТОМАТИЧЕСКИЕ ВЫКЛЮЧАТЕЛИ ДЛЯ ЗАЩИТЫ ЭЛЕКТРОДВИГАТЕЛЕЙ СЕРИИ MS116, СЕРИИ MS132. WEIDMULLER. Универсальные клеммы EATON/MOELLER. Компактные щиты,автоматические выключатели, контакторы, принадлежности. AUTONICS.Решения для автоматизации. Дроссели , катушки индуктивности DC-DC преобразователи. AC-DC преобразователи. Датчики. Термостаты. WAGO. Клеммы для электромонтажных работ. Phoenix contact. Клеммы , контакты. OMRON. Реле, датчики. Wieland Electric GmbH. Средства электротехнической коммутации

Производитель:

ВсеПроизводитель 1Производитель 10Производитель 11Производитель 12Производитель 13Производитель 14Производитель 15Производитель 16Производитель 17Производитель 18Производитель 19Производитель 2Производитель 20Производитель 21Производитель 22Производитель 23Производитель 24Производитель 25Производитель 26Производитель 27Производитель 28Производитель 29Производитель 3Производитель 30Производитель 31Производитель 32Производитель 33Производитель 34Производитель 35Производитель 36Производитель 37Производитель 38Производитель 39Производитель 4Производитель 40Производитель 41Производитель 42Производитель 5Производитель 6Производитель 7Производитель 8Производитель 9

Скидка 20% при покупке от:

Вседанет

Результатов на странице:

5203550658095

Параметры светодиодов

RADIOMASTER

Лучшие смартфоны на Android в 2022 году

Серия iPhone от Apple редко чем удивляет. Когда вы получаете новый iPhone, общее впечатление, скорее всего, будет очень похожим на ваше предыдущее устройство. Однако всё совсем не так в лагере владельцев устройств на Android. Существуют телефоны Android всех форм и размеров, не говоря уже о разных ценовых категориях. Другими словами, Android-телефон может подойти многим. Однако поиск лучших телефонов на Android может быть сложной задачей.

Документация Схемотехника CAD / CAM Статьи

Диоды Транзисторы Переходника и адаптеры Разъемы Кабели Комплектующие

• Главная
/
• База знаний
/
• Документация
/
• Диоды

Тип светодиода	Цвет свечения	Постоянное прямое напряжение (Uпр. ) В,не более при [Iпр.] мА	Максимальный постоянный прямой ток (Iпр.), мА	Сила света, мкд,не менее
АЛ307АМ	красный	2,0 [10]	20	0,15
АЛ307БМ	красный	2,0 [10]	20	0,9
АЛ307ВМ	зеленый	2,8 [20]	22	0,4
АЛ307ГМ	зеленый	2,8 [20]	22	1,5
АЛ307ДМ	желтый	2,5 [10]	20	0,4
АЛ307ЕМ	желтый	2,5 [10]	20	1,5
АЛ307ЖМ	желтый	2,5 [10]	20	6,0
АЛ307КМ	красный	2,0 [10]	20	2,0
АЛ307ЛМ	красный	2,0 [10]	20	6,0
АЛ307НМ	зеленый	2,8 [20]	22	6,0
АЛ307ПМ	зеленый	2,8 [20]	22	16,0
АЛ336А	красный	2,0 [10]	20	6
АЛ336Б	красный	2,0 [10]	20	20
АЛ336В	зеленый	2,8 [10]	20	10
АЛ336Д	желтый	2,8 [10]	20	4
АЛ336Е	желтый	2,8 [10]	20	10
АЛ336Ж	желтый	2,8 [10]	20	15
АЛ336И	зеленый	2,8 [10]	20	20
АЛ336К	красный	2,0 [10]	20	40
АЛ336Н	зеленый	2,8 [10]	20	50

Теги Справка

Сюжеты Справка

Микросхемы

12586 0

Интегральные стабилизаторы напряжения отечественного производства

14406 0

Индикаторы

10906 0

Комментарии (0)

Вы должны авторизоваться, чтобы оставлять комментарии.

Вход

О проекте Использование материалов Контакты

Новости Статьи База знаний

Радиомастер
© 2005–2022 radiomaster.ru

При использовании материалов данного сайта прямая и явная ссылка на сайт radiomaster.ru обязательна. 0.2509 s

Лаборатория многофункциональных композиционных материалов

Достижения

 

Наиболее значимые научно-технические результаты, полученные на кафедре:

На основе теоретического рассмотрения общей схемы рекомбинационных переходов в фотопроводниках, содержащих различные типы центров рекомбинации и уровень захвата основных носителей, разработан комплекс методов совместного изучения фотопроводимости и рекомбинационной люминесценции на основе изучения их стационарные и преимущественно кинетические характеристики (В.Е.Лашкарев, И.Б.Ермолович, А.В.Лубченко, М.К.Шейнкман, 1960-1968)

Впервые все параметры (такие как концентрация, энергетические позиции в запрещенной зоне, сечение захвата электронов и дырок, энергия фотонов, необходимая для перехода электрона из валентной зоны в центры и из центров проводимости полоса , степень электрон-фононного взаимодействия) идентифицированы для центров фоточувствительности . механизмов излучательной рекомбинации для наиболее важных A ₂ B ₆ (CdS, CdSe, CdSSe, ZnSe, ZnTe, CdTe, Zn), A ₃ B ₅ (GaAs), A ₃ B 909022 6 , InSe) и других полупроводников были установлены (В. Лашкарев, И. Городецкий, И. Ермолович, Н. Корсунская, А. Лубченко, М. Шейнкман). Эти результаты послужили основой для разработки новых типов фотоприемников и преобразователей для широкого диапазона электромагнитного спектра. Эта работа была удостоена Государственной премии СССР в области науки и техники (М.К. Шейнкман, 1984).

М.К. Шейнкман впервые рассмотрел новый тип взаимодействия центров (аналог Оже-взаимодействия). Предполагалось, что энергия, выделяющаяся при захвате носителя центром, передается носителю, находящемуся рядом с центром. Теоретически предложен и реализован новый механизм безызлучательной рекомбинации для объяснения явлений взаимодействия примесей в полупроводниках (В. И. Дякин, Е.А. Сальков, В.А. Хвостов, М.К. Шейнкман, Н.О. Корсунская, И.В. Маркевич, Т.В. Торчинская).

На основе теоретического рассмотрения (М.К. Шейнкман, 1972) впервые была предложена физическая модель гетерогенных систем , позволившая выделить большую группу явлений долговременного релаксационного тока (так называемой остаточной проводимости) в различные полупроводниковые материалы, требующие объяснения (И.В.Маркевич, В.А.Хвостов, М.К.Шейнкман, 1973).

На основе детального теоретического анализа (С.С.Остапенко) разработан комплекс поляризационных методов исследования спектров люминесценции и фототокового возбуждения , что позволило установить модель основных центров люминесценции в материалах А ₂ Б ₆ (С.С.Остапенко, М.А.Танатар, М.К.Шейнкман).

Новый фундаментальный тип неравновесных процессов, т.е. процессы трансформации дефектов при освещении и рентгеновском облучении, а также при инжекции носителей, исследовал Н. О. Корсунская, И.В. Маркевич, Т.В. Торчинская, М.К. Шейнкман. Детальное исследование характера этих процессов (так называемых « фотохимическая реакция «) в полупроводниках A ₂ B ₆ выявлено несколько типов реакций. Установлены природа и механизмы этих процессов. Их важная роль в деградации оптоэлектронных устройств, например, фотоприемников на основе Были продемонстрированы полупроводники A ₂ B ₆ .

Экспериментальные и теоретические исследования электролюминесцентной деградации светодиодов на основе А ₃ B ₅ полупроводники (GaAs:Si, GaP:N) позволили предложить модель деградации и выявить типы и механизмы рекомбинационно-стимулированных реакций дефектов, вызывающих деградацию светодиодов (Т.В.Торчинская).

процессы реконструкции и генерации дефектов под действием ультразвука и лазерного ИК излучения наблюдали С. С.Остапенко, Н.О.Корсунская, М.К.Шейнкман. В частности, было показано, что ультразвук значительно ускоряет водородную пассивацию центров поверхности в поликристаллическом кремнии (С.С.Остапенко).

Установлен механизм деградации активных элементов на основе кристаллов CdS лазеров с электронной накачкой . Порог поверхностного разрушения лазерных экранов зависит от технологии выращивания кристаллов CdS и определяется типом макродефектов, т.е. границ зерен, когда кристаллы выращены с избытком паров серы, и включения кадмийфазы для кристаллов, выращенных с избытком паров кадмия (Н. Пекар).

Теоретические и экспериментальные исследования электродиффузии дефектов показали, что использование внешнего электрического поля позволяет снизить температуру легирования, выявить локальные центры, образованные примесными атомами, ускорить и упростить определение параметров и изучить механизмы диффузии дефектов, а также реализовать этот метод очистки кристаллов от примесей.

Электродиффузионным методом 9В работе 0006 исследовано влияние локальных центров, связанных с Cu и Ag в кристаллах CdS, ZnO и ZnS, на их фотоэлектрические и люминесцентные свойства. Показана роль примесных атомов в фотоиндуцированных реакциях дефектов в кристаллах CdS:Cu и CdS:Ag. Обнаружена анизотропия диффузии ионов Ag и Cu в кристаллах CdS в различных кристаллографических направлениях. Исследован эффект «аномального» дрейфа в кристаллах CdSe. Было показано, что «остаточными» донорами в ZnO являются Zn _и подвижных междоузельных атомов и влияние их движения под действием внутренних и внешних электрических полей на экситонную и «примесную» люминесценцию (И.В. Маркевич, Н.О. Корсунская, Л.В. Борковская, Л.Ю. Хоменкова, В.И. Кушниренко).

Установлен механизм излучательных переходов, обусловленных центрами Ag _Zn в керамике ZnO. Было продемонстрировано, что Ag _Zn создает неглубокий уровень в запрещенной зоне ZnO, тогда как Li _Zn , Na _Zn , K _Zn являются глубокими акцепторами, вызывающими люминесценцию в спектральном диапазоне 580-620 нм.

На основе теоретического анализа процессов дрейфа дефектов в электрическом поле показано, что процесс электродиффузионной очистки полупроводников можно значительно ускорить за счет деформационных эффектов. Последнее может иметь место даже для незаряженных дефектов (Н.И. Каширина, М.К. Шейнкман).

В 1983 году М.К. Шейнкман предложил альтернативное объяснение рекомбинационно-стимулированной диффузии дефектов в полупроводниках основано на диффузии дефектов в возбужденном состоянии.

Новый механизм изменения диффузионного барьера вакансионных центров в ионных кристаллах, связанный с захватом двух электронов в антисвязывающее состояние. Численное моделирование этого изменения в случае захвата одного или двух электронов в связывающем и антисвязывающем состояниях проведено для вакансионных центров (F- и F’-центров) в щелочно-галоидных кристаллах. (Н.И. Каширина, М.К. Шейнкман).

Низкоразмерные органические проводники с перспективными новыми механизмами сверхпроводимости при высоких критических температурах были исследованы в 1978-2001 гг. Систематическое изучение электронных и колебательных спектров позволило объяснить важные сверхпроводящие свойства этого класса соединений (К.И. Походня, М.Е. Козлов). Способы регулирования и стабилизации сверхпроводимости соединений БЭДТ-ТТФ показали наиболее высокие значения критических температур, но страдали диэлектрическими фазовыми переходами (Ю.В. Сушко, М.А. Танатар, В.А. Бондаренко).

Исследование квантоворазмерных структур на основе материалов группы IV, соединений A ₂ B ₆ и A ₃ B ₅ началось в 1994 г. А именно, был исследован пористый Si, полученный химическим путем. и анодное травление, а также слои кремнезема и оксида алюминия с внедренными синанокристаллами, полученными методом магнетронного распыления, структуры с квантовыми ямами и квантовыми точками на основе А ₂ Б ₆ и А ₃ Б ₅ полупроводников, выращенных методом молекулярно-лучевой эпитаксии, и системы с А ₂ B ₆ квантовые точки, полученные методами коллоидной химии.

Исследование структур с внедренными в оксидную матрицу нанокристаллами Si выявило вклад различных каналов излучательной рекомбинации (рекомбинация экситонов в нанокристаллах Si и рекомбинация через дефекты в оксидной матрице) в спектрах люминесценции этих объектов по сравнению с изготовлением условиях и послепроизводственной обработки, а также в процессе старения. В частности, сравнение структурных и люминесцентных характеристик Si-rich-SiO ₂ и Si-rich-Al ₂ O ₃ показали, что образование нанокристаллов Si при отжиге происходит быстрее в слоях Si-rich-Al ₂ O ₃ , чем Si-rich-SiO ₂ фильма. В то же время спектр люминесценции слоев Si-rich-SiO ₂ определяется в основном рекомбинацией экситонов в нанокристаллах Si, тогда как в излучении материалов Si-rich-Al ₂ O ₃ преобладают носители ‘ рекомбинация через радиационные дефекты на границе раздела Si/Al ₂ O ₃ или оксидная матрица (Н. О. Корсунская, Л.Ю. Хоменкова, Т.Р. Стара).

Идентифицированы полосы люминесценции, связанные с катионными вакансиями, для эпитаксиальных гетероструктур с квантовыми точками CdSe/ZnSe . Показано, что в процессе роста образуются вакансии, препятствующие самоорганизации крупных квантовых точек и вызывающие быстрое растворение точек до отжига за счет стимуляции латеральной диффузии (Л.В.Борковская, Н.О.Корсунская).

Впервые выполнено аналитическое решение системы уравнений модели независимого захвата носителей в квантовых точках в соединениях A ₂ B ₆ и экспериментально подтверждено, что эта модель хорошо описывает процесс термического тушения люминесценция в эпитаксиальных структурах с квантовыми точками CdSe/ZnSe. В то же время показано, что термическое тушение фотолюминесценции структур InAs/InGaAs/GaAs с квантовыми точками InAs в асимметричной квантовой яме InGaAs описывается моделью двухстадийного теплового излучения экситонов из квантовой точки в квантовую яму. ямы и от квантовой ямы до барьера GaAs (Л.В. Борковская, Н.О. Корсунская).

Разработаны механизмы спектрального сдвига максимума полосы люминесценции коллоидных квантовых точек (тип ядро/оболочка CdSe/ZnS), сопряженных с биомолекулами. Этот эффект было предложено использовать для резистентности к наличию иммунокомплексов и позволяет значительно повысить точность иммунофлуоресцентного анализа (Л.В. Борковская, Н.О. Корсунская, Л.В. Щербина). Новый механизм эффекта фотостимулированного повышения эффективности люминесценции коллоидных квантовых точек CdSe при ультрафиолетовом облучении был предложен Н.О.Корсунской.

Найдена зависимость спектров фотолюминесценции коллоидных квантовых точек CdSe, внедренных в полимерную матрицу из желатина и поливинилового спирта, от условий синтеза. Обнаружена возможность низкотемпературного управления этим превращением при отжиге на воздухе. Показано, что изменение спектров люминесценции квантовых точек при отжиге зависит от характера физико-химических изменений в полимерной матрице на границе раздела квантовая точка/полимер. Обнаружен эффект фотостимулированного усиления люминесцентного излучения квантовых точек CdSe, внедренных в матрицу из поливинилового спирта, под действием видимого излучения (Борковская Л.В., Корсунская Н.О.).

            
 

Разработки

Наиболее значимые научно-технические разработки:

Метод газофазного синтеза монокристаллов и ряда А 2 В 6 выращены монокристаллы с совершенной кристаллической структурой (CdS, CdSe, CdTe, ZnO) (Булах Б.М., Пекар Г.С., 1966-2003: Булах Б.М., А.С.135227, СССР, 01.06.60;А.С.209417, СССР, 08.07.66; Б.М. Булах, Г.С. Пекар, А.С. 1678972, СССР, 07.05.71 )   Способ повышения светочувствительности полупроводниковых соединений А 2 В 6 (Н.Е. Корсунская, И.В. Маркевич, М.Д. Мойн, Е.А. Сальков, А.С. 982487, СССР, 1982).

 

 

 

Способ изготовления омических контактов к полупроводникам (Н.Е. Корсунская, М.Д. Мойн, Е.А. Сальков, В.Д. Фурсенко, А.С. 904477, СССР, 1982).

Способ изготовления конструкций «фотокондуктор — прозрачный контакт» (Корсунская Н.Е., Мойн М.Д., Шаблий И.Ю., А.С. 982486, СССР, 1982 г.).

Экспресс-метод контроля качества (прогнозирование надежности) фотоэлектрических устройств на основе А ₂ B ₆ полупроводники, испытание кристаллов на «фотохимические реакции» (Н.Е. Корсунская, Т.В. Торчинская, М.К. Шейнкман, И.В. Маркевич, А.С. 993174, СССР, 1983).

Способ изготовления фоточувствительных элементов (Н.Е.Корсунская, А.Байдулаева, И.Я.Городецкий, П.Е.Мозоль, А.С. 1091768, СССР, 1984).

Способ изготовления светочувствительных тонкопленочных гетеропереходов (Атдаев Б. С., Булах Б.М., Горягдыев Г., Рахлин М.Я., Шейнкман М.К., 13569 А.С.17, СССР, 08.01.87)

Способ получения твердых растворов монохалькогенидов металлов II группы твердофазным замещением (Булах Б.М., Друзь Б.Л., Евтухов Ю.Н., Сальков Е.А., А.С. 1637379, СССР, 13.04.89; Б.М. Булах, Б.Л.Друзь, Ю.Н.Евтухов, А.В.Томсон, А.С.1637378, СССР, 13.04.89)

Способ совершенствования промышленной технологии гетероструктур AlGaAs/GaAs для применения в космических солнечных элементах. Результаты исследования двойных GaAlAs-структур использованы при изготовлении светодиодов АЛ307ЛМ (Светловодск, Украина) (Т.В. Торчинская).

Способ получения фоточувствительных монокристаллов CdS с низким содержанием протяженных дефектов (Н.Е.Корсунская, И.В.Маркевич, Г.С.Пекар, А.Ф.Сингаевский, 1992). Предложенный метод был применен для выращивания монокристаллов CdS с уникально высокой оптической прочностью, низкой плотностью дислокаций, включений и малоугловыми границами. Эти кристаллы использовались для изготовления экранов мощных лазеров с накачкой электронным пучком. Предложенная технология внедрена в НПО «Платан» (г. Фрязино, Россия), НИИ Материалов (г. Зеленоград, Россия) и ПИАС (г. Москва, Россия). Патент России № 183189.4 (Н.В. Климова, Н.Е. Корсунская, И.В. Маркевич, Г.С. Пекар, А.Ф. Сингаевский (1992).

 

Способ низкотемпературного экспресс-легирования и очистки кристаллов А 2 Б 6 (Маркевич И.В., Корсунская Н.О., Борковская Л.В., Хоменкова Л.Ю.).

 

Разработана технология изготовления слоев макро- и нанопористого кремния с управляемыми люминесцентными свойствами методом анодирования (Булах Б.М., 1991-1999).

Бесконтактный и неразрушающий метод контроля пространственного распределения концентрации свободных носителей и компенсирующих примесей в и эпитаксиальные пленки SiC , основанные на сравнении пространственного распределения интенсивностей фото- и термостимулированной люминесценции (Н.