Метод вильямсона холла – Электронный научный архив ТПУ: Invalid Identifier

Содержание

Ресурсный центр «Рентгенодифракционные методы исследования» / Полезные ресурсы

Глубокоуважаемые коллеги!
Наиболее полное собрание ссылок и описаний программного обеспечения для кристаллографических расчетов (включая анализ дифракционных данных) содержится на сайте Международного Союза Кристаллографов (International Union of Crystallography) по адресу http://www.iucr.org/resources/other-directories/software. Здесь мы приведем лишь некоторые ссылки на бесплатные программы, которыми сами пользуемся и будем представлять Вашему вниманию наши методические обзоры, методики исследований и инструкции.

Выберите интересующий раздел:

Презентации

Базы данных и справочники

COD (Crystallography Open Database) - база данных кристаллических структур органических, неорганических, металло-органических соединений и минералов, за исключением биополимеров. http://www.crystallography.net/

American Mineralogist Crystal Structure Database - онлайн структурная база данных Американского минералогического общества. Содержит информацию о структурах минералов в виде *.cif  файлов (crystallographic information file). Возможен поиск по названию минерала, химическому составу, авторам, по параметрам кристаллической решетки и дифракционным данным. http://rruff.geo.arizona.edu/AMS/amcsd.php

Mincryst - кристаллографическая и кристаллохимическая база данных минералов и их структурных аналогов разработанная в Институте экспериментальной минералогии РАН. http://database.iem.ac.ru/mincryst/

Space Group Explorer - справочник по пространственным группам симметрии кристаллов. http://www.calidris-em.com/spacegroupexplorer.php

Таблица Менделеева -  интерактивная таблица с описанием свойств каждого элемента http://www.xumuk.ru/tables/Таблица_Менделеева

Программы для рентгенофазового анализа и исследования микроструктуры вещества

PowDLL  - конвертер различных форматов файлов порошковых дифракционных данных. Поддерживает множество, но не все важные форматы. http://users.uoi.gr/nkourkou/powdll.htm

ССР14 - коллекция полезных программ от международного вычислительно проекта для индицирования порошковых рентгенограмм. http://www.ccp14.ac.uk/solution/indexing/

UnitCell - программное обеспечение для уточнения параметров элементарной ячейки вещества по индицированным порошковым дифракционным данным. http://www.ccp14.ac.uk/ccp/web-mirrors/crush/astaff/holland/UnitCell.html

Powder Cell  - программное обеспечение для полнопрофильного анализа порошковых дифракционных данных методом Ритвельда (моделирование порошковых рентгенограмм по структурным данным, визуализация и уточнение кристаллических структур, количественный анализ смесей, определение размеров кристаллитов и микронапряжений методом Вильямсона-Холла). http://www.ccp14.ac.uk/tutorial/powdcell/

Maud - программное обеспечение для полнопрофильного анализа порошковых дифракционных данных методом Ритвельда со множеством дополнительных возможностей. http://www.ing.unitn.it/~maud/

WinFit - программное обеспечение для микроструктурного анализа методом Уоррена-Авербаха. http://www.ccp14.ac.uk/ccp/web-mirrors/krumm/html/software/winfit/winfitnews.html

Fityk - Программное обеспечение для нелинейного фитинга. http://fityk.nieto.pl/

Программы для рентгеноструктурного анализа

SHELX - комплекс программ для решения и уточнения кристаллической структуры по данным монокристальной рентгенографии. Первая версия программы была написана еще в конце 1960-х британским кристаллографом Джорджем Шелдриком, в настоящее время работающим в Геттингемском университете (Германия), и с тех пор является одной из наиболее популярных в мире программ в области расшифровки структур. Для работы в программе необходимы файл с расширением .hkl, содержащий интенсивности дифракционных максимумов, полученных от кристалла, и файл с расширением .ins, содержащий данные о кристалле (параметры элементарной ячейки, пространственную группу, примерный химический состав). http://shelx.uni-ac.gwdg.de/SHELX/index.html

Sir - широко распространенный пакет для решения и уточнения небольших монокристаллических структур с использованием данных рентгеновской дифракции или дифракции электронов. Пакет программ Sir (Semi-Invariants Representation) был первоначально разработан для неэмпирического решения кристаллических структур прямыми методами. Современная версия, доступная как самостоятельная программа или включенная в пакет Il Milione, предназначена для неэмпирического решения структур различного размера и сложности, вплоть до макромолекул, при условии, что разрешение данных не ниже 2.0 Å. http://wwwba.ic.cnr.it/content/sir2011-v10-available

WinGX  - программный комплекс под управлением ОС Windows для решения, уточнения и анализа данных рентгеновской дифракции на монокристаллах для малых молекул. Комплекс предоставляет унифицированный и удобный графический интерфейс для наиболее распространенных и популярных кристаллографических программ, таких как SHELX-97 и SirWare (SIR-97, SIR-2004).  http://www.chem.gla.ac.uk/~louis/software/wingx/

Olex2 - простая в использовании программа для решения и уточнения кристаллических структур малых молекул. Она включает в себя множество полезных инструментов для структурного анализа, архивирования и создания отчетов. В оболочку комплекса могут интегрироваться программы SHELX. В таком виде комплекс сочетает в себе не только надежность и достоверность данных, обусловленные использованием программы Дж. Шелдрика, но также достоинства непосредственного отображения данных уточнения структуры, что значительно облегчает работу с органическими и металлоорганическими соединениями. http://www.olex2.org/

Platon - совместимая с SHELX кристаллографическая программа, позволяющая проводить автоматизированный расчет производных геометрических данных (длины связей, углы, торсионные углы, анализ координационных сфер, водородных связей и других межмолекулярных взаимодействий и т. п.), а также используется для проверки выбранной пространственной группы и преобразований элементарных ячеек. http://www.chem.gla.ac.uk/~louis/software/platon/

Mercury - программа для визуализации кристаллических структур. Позволяет проводить анализ межатомных расстояний, геометрии химических связей, способов упаковки молекул, а также проводит расчет теоретической порошкограммы по структурным данным. http://www.ccdc.cam.ac.uk/products/mercury/

xrd.spbu.ru

принцип работы, теория, формула, применение

Принцип эффекта Холла — одна из самых популярных теорий измерения магнитного поля. В этом посте будут обсуждаться Эффект Холла, принцип его работы, объяснение теории, формула, применение, включая расчеты для напряжения Холла, коэффициента Холла, концентрации носителей заряда, подвижности Холла и плотности магнитного поля.

Принцип эффекта Холла объясняет поведение носителей заряда при воздействии электрического и магнитного полей. Этот принцип можно рассматривать как расширение силы Лоренца, которая является силой, действующей на носители заряда (электроны и отверстия), проходящие через магнитное поле.

Датчики, работающие по этому принципу, называются датчиками Холла. Эти датчики Холла пользуются большим спросом и имеют очень широкое применение, например, датчики приближения, переключатели, датчики скорости вращения колес, датчики положения и так далее.

История эффекта Холла

Принцип эффекта Холла был назван в честь американского физика Эдвина Холла (1855–1938). Впервые он был представлен миру в 1879 году.

на картинке Эдвин Холл

В 1879 году он обнаружил, что когда проводник / полупроводник с током расположен перпендикулярно магнитному полю, генерируется напряжение, которое можно измерить под прямым углом к ​​пути тока. В течение этого времени электрический ток в проводе считался чем-то похожим на текущую жидкость в трубе.

Принцип эффекта Холла предполагает, что магнитная сила в токе приводит к скученности на конце трубы или (провода). Электромагнитный принцип теперь объясняет науку, лежащую в основе эффекта Холла, гораздо лучше. Теория этого зала, безусловно, намного опередила свое время. Лишь два десятилетия спустя, с введением полупроводников, работа и использование эффекта Холла были эффективно использованы.

Первоначально этот принцип использовался для классификации химических образцов. Позднее датчики Холла (с использованием полупроводниковых соединений арсенида индия) стали источником для измерения постоянного или статического магнитного поля, не поддерживая датчик в движении. После десятилетия в 1960-х годах появились кремниевые полупроводники. Это было время, когда элементы Холла были объединены со встроенными усилителями, и таким образом, выключатель Холла был представлен миру.

на схеме Принцип эффекта Холла - ток, протекающий через пластину

Принцип работы эффекта Холла

Принцип эффекта Холла гласит, что когда проводник или полупроводник с током, текущим в одном направлении, вводится перпендикулярно магнитному полю, напряжение может быть измерено под прямым углом к ​​пути тока.

Эффект получения измеримого напряжения, как сказано выше, называется эффектом Холла.

Теория за принципом эффекта Холла

Прежде всего, мы должны понять, что такое электрический ток. Электрический ток — это в основном поток заряженных частиц через проводящий путь. Эти заряженные частицы могут быть «отрицательно заряженными электронами» или даже «положительно заряженными отверстиями» (пустоты, в которых должны находиться электроны). Теперь давайте перейдем к теме.

Если мы возьмем тонкую проводящую пластину (как показано выше на рис. 1 и повторено ниже для простоты считывания) и подключим ее к цепи с батареей (источником напряжения), то ток начнет течь по ней. Носители заряда будут течь по прямой линии от одного конца пластины к другому концу.

Поскольку носители заряда находятся в движении, они будут создавать магнитное поле. Теперь, когда вы поместите магнит рядом с пластиной, его магнитное поле будет искажать магнитное поле носителей заряда. Это расстроит прямой поток носителей заряда. Сила, которая нарушает направление потока носителей заряда, называется силой Лоренца.

Из-за искажения в магнитном поле носителей заряда отрицательные заряженные электроны будут отклоняться на одну сторону пластины, а положительные заряженные дыры — на другую сторону. Вот почему разность потенциалов (также называемая напряжением Холла) будет генерироваться между обеими сторонами пластины, что можно измерить с помощью измерителя.

на картинке Принцип эффекта Холла - Отклонение электронов и дырок

Этот эффект известен как эффект Холла. Чем сильнее магнитное поле, тем больше электронов будет отклоняться. Это означает, что чем выше ток, тем больше электронов будет отклоняться. И чем больше будут отклоняться электроны, тем больше будет разность потенциалов между обеими сторонами пластины. Поэтому мы можем сказать, что:

  • Напряжение Холла прямо пропорционально электрическому току, и прямо пропорционально приложенному магнитному полю.

Формула эффекта Холла

Вот некоторые математические выражения, которые широко используются в вычислениях эффекта Холла:

Напряжение Холла

Напряжение Холла представлена V H. Формула для напряжения Холла:

Формула напряжения Холла

Где:

I — Ток, протекающий через датчик

B — напряженность магнитного поля

q — заряд

n — количество носителей заряда на единицу объема

d — толщина датчика

Коэффициент Холла

Оно представлено RH. Формула для коэффициента Холла (R H ) равно 1 / (qn) . Коэффициент Холла (R H ) положителен, если число отверстий положительного заряда больше, чем число электронов отрицательного заряда. Аналогично, коэффициент Холла (RH) отрицателен, если число отрицательных зарядовых электронов больше, чем число отверстий положительного заряда.

Концентрация несущей заряда

Концентрация электронов в носителе заряда обозначена как «n», а «дырки» — как «p». Математическое выражение для концентрации носителей заряда:

Формула для концентрации носителей заряда

Холловская  мобильности

Холловская мобильность для электронов представлена ​​как « μ n », а для отверстий — как « μ p ». Математическое выражение для мобильности Холла:

Формула для концентрации носителей заряда

Где:

μ n — проводимость за счет электронов

μ p — проводимость благодаря отверстиям

Плотность магнитного потока

Плотность магнитного потока обозначена буквой «B». Формула для плотности магнитного потока:

Математическое выражение для плотности магнитного потока

Применение принципа эффекта Холла

Принцип эффекта Холла используется в:

  • Оборудование для измерения магнитного поля.
  • Множитель приложений для обеспечения фактического умножения.
  • Тестер Эффекта Холла для измерения постоянного тока.
  • Измерение фазового угла. Например — при измерении углового положения коленчатого вала, чтобы точно выровнять угол зажигания свечей зажигания
  • Датчики линейных или угловых перемещений. Например — определить положение автомобильных сидений и ремней безопасности и выступить в роли блокировки для управления подушкой безопасности.
  • Датчики приближения.
  • Датчики с эффектом Холла
  • Для определения скорости вращения колеса и, соответственно, помощи антиблокировочной тормозной системы (ABS).

Как эффект Холла можно использовать для определения типа используемого полупроводника?

Коэффициент Холла говорит обо всем. Если коэффициент Холла отрицателен, это означает, что основными носителями заряда являются электроны. И поскольку число электронов больше по сравнению с отверстиями в полупроводниках n-типа, это ясно указывает на то, что испытываемый полупроводник n-типа. Аналогичным образом, если коэффициент Холла положительный, это означает, что основными носителями заряда являются дырки. И поскольку число отверстий больше по сравнению с электронами в полупроводниках p-типа, это ясно указывает на то, что испытываемый полупроводник p-типа.

meanders.ru

"Физика и техника полупроводников"

Анализ особенностей кристаллической структуры НЕМТ-гетероструктур GaN/Al0.32Ga0.68N по данным рентгеновской дифрактометрии методом Вильямсона-Холла

Пушкарeв С.С.1, Грехов М.М., Зенченко Н.В.1

1Национальный исследовательский ядерный университет "МИФИ", Москва, Россия

Email: [email protected]

Поступила в редакцию: 6 июня 2017 г.

Выставление онлайн: 20 мая 2018 г.

Показано, что аппроксимация пиков на кривых рентгеновского дифракционного отражения в режимах theta/2theta- и omega-сканирования точнее всего может быть выполнена инверсным полиномом четвeртой степени или функцией плотности вероятности при распределении Стьюдента. Эти функции хорошо описывают не только центральную, наиболее интенсивную часть экспериментального пика, но также и его малоинтенсивное расширенное основание, обусловленное диффузным рассеянием. С помощью метода Вильямсона-Холла определены средняя микродеформация varepsilon и средний вертикальный размер области когерентного рассеяния D для слоeв GaN (varepsilon~0.00006, D~200 нм) и Al0.32Ga0.68N (varepsilon=0.0032±0.0005, D=24±7 нм). Значение D, полученное для слоя Al0.32Ga0.68N, обусловлено, скорее всего, толщиной слоя Al0.32Ga0.68N, которая номинально составляет 11 нм.

  1. К.Н. Томош, А.Ю. Павлов, В.Ю. Павлов, Р.А. Хабибуллин, С.С. Арутюнян, П.П. Мальцев. ФТП, 50 (10), 1434 (2016)
  2. Д.Н. Слаповский, А.Ю. Павлов, В.Ю. Павлов, А.В. Клековкин. ФТП, 51 (4), 461 (2017)
  3. В.В. Груздов, Ю.В. Колковский, Ю.А. Концевой. Контроль новых технологий в твердотельной СВЧ электронике (М., Техносфера, 2016) ISBN 978-5-94836-426-1
  4. Р.Н. Кютт, А.А. Дышеков. Письма ЖТФ, 37 (7), 31 (2011)
  5. G.K. Williamson, W.H. Hall. Acta Metall., 1, 22 (1953)
  6. В.И. Иверонова. Теория рассеяния рентгеновских лучей (М., Изд-во Московского ун-та, 1978)
  7. Ю.В. Пономарчук. Автореф. канд. дис. физ.-мат. наук (Кемерово, Кемеровский гос. ун-т, 2015)
  8. R. Chierchia, T. Bottcher, H. Heinke, S. Einfeldt, S. Figge, D. Hommel. J. Appl. Phys, 93, 8918 (2003)
  9. И.С. Васильевский, С.С. Пушкарев, М.М. Грехов, А.Н. Виниченко, Д.В. Лаврухин, О.С. Коленцова. ФТП, 50 (4), 567 (2016)
  10. Zhenyang Zhong, O. Ambacher, A. Link, V. Holy, J. Stangl, R.T. Lechner, T. Roch, G. Bauer. Appl. Phys. Lett., 80, 3521 (2002)

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.

journals.ioffe.ru

Экспериментальные исследования дефектной структуры наноматериалов


из "Наноструктурные материалы, полученные интенсивной пластической деформацией"

Для выяснения основных особенностей дефектной структуры ИПД материалов рассмотрим прежде всего результаты, полученные на чистых металлах и/или однофазных сплавах, где нет усложняющего влияния вторых фаз. [c.62]
Электронно-микроскопические исследования. Уже в первых электронно-микроскопических исследованиях наноструктурных материалов, полученных ИПД, было обращено внимание на специфический вид границ зерен в сравнении с обычными отожженными материалами [8, 37]. Типичным примером такого дифракционного контраста является изображение микроструктуры сплава А1-4 %Си-0,5 %Zг [8], имевшего после ИПД кручением средний размер зерен около 0,2 мкм (рис. 2.2а). Для сравнения рядом приведена микроструктура этого же образца, подвергнутого дополнительному отжигу при 160°С в течение 1ч (рис. 2.26). В обоих случаях наблюдалась структура зеренного типа, имеющая преимущественно большеугловые границы. Тем не менее вид толщинных контуров экстинкции на границах зерен на рис. 2.2а отличается от такового на рис. 2.26 значительным уширением. [c.62]
Согласно динамической теории дифракционного контраста [112-114], толщинные контуры экстинкции являются контурами одинаковой глубины в тонкой фольге и появляются на электронномикроскопическом изображении, когда некоторое семейство плоскостей данного зерна находится в брэгговских условиях отражения. В работах [115, 116] проанализирована физическая природа уширения толщинных контуров экстинции на электронномикроскопических изображениях границ зерен в наноструктурных материалах и показано, что оно связано с высоким уровнем внутренних напряжений и искажений кристаллической решетки вблизи границ зерен в образцах, подвергнутых ИПД. На основе этого анализа предложена методика определения величины упругих деформаций в зависимости от расстояния до границы зерна. [c.62]
Расчетное распределение упругих деформаций вблизи границы зерна, содержащей такую конфигурацию дислокаций, в соответствии выражением (2.1) имеет аналогичные экспериментально построенной кривой 1 на рис. 2.3 особенности и показывает максимум упругих деформаций в приграничной области, а также экспоненциальный спад при больщих расстояниях от границы зерна. Отметим, что быстрое уменьщение величины упругих деформаций с увеличением расстояния от границы зерна предсказывалось также и в других работах [12, 118]. Из рис. 2.3 следует, что достаточно хорощее совпадение расчетных данных, полученных по формуле (2.1), с экспериментальными данными достигается при среднем расстоянии между краевыми зернограничными дислокациями D = 10 нм, что соответствует их плотности 1X10 м при величине вектора Бюргерса бзгд = Ь/6 где Ь = 2,56 X 10 м [Ш]. [c.64]
Полученные результаты позволили заключить [116], что ущи-рение толщинных контуров экстинции на электронно-микроскопических изображениях границ зерен в наноструктурных материалах действительно связано с большими упругими деформациями. Более того, максимальные значения упругих деформаций наблюдаются в приграничных областях, где их уровень значительно вьппе, чем в теле зерен. При этом развитый метод может быть использован для количественных измерений упругих деформаций в индивидуальных границах. [c.64]
Отметим, что близкие результаты, указывающие на значительные упругие деформации в приграничных областях, были получены недавно в работе [119], где наблюдали и измеряли методом просвечивающей электронной микроскопии кривизну кристаллической рещетки вблизи границ зерен, а также переменную разори-ентацию вдоль индивидуальных границ в N1, подвергнутом ИПД. В этой работе, используя изгибные контуры экстинкции, исследовали структурную кривизну рещетки, которая является кривизной кристаллографических плоскостей, параллельных волновому вектору, в отличие от обычной изгибной кривизны, относящейся к плоскостям, перпендикулярным волновому вектору. Вследствие этого структурная кривизна отражает реальную структуру объемных образцов, поскольку плоскости, параллельные волновому вектору, практически не меняют свою кривизну при возможном изгибе фольги при ее приготовлении. [c.65]
Известно [112, 120], что использование картин Муара позволяет наиболее отчетливо выявлять небольшие искажения кристаллической решетки. Данный принцип основан на том факте, что небольшие изменения в трансляционной симметрии приводят к заметным изменениям в картинах Муара. Картины Муара часто наблюдаются в тех случаях, когда изображения кристаллических решеток двух соседних зерен накладываются друг на друга. Характерными чертами картин Муара при электронно-микроскопических исследованиях искажений кристаллической решетки являются искривления получаемых изображений кристаллографических плоскостей и часто изменение расстояния между ними. С другой стороны, наблюдаемые явления могут быть вызваны дифракционными эффектами. [c.66]
Для однозначной трактовки результатов получаемые изображения должны анализироваться в сопоставлении с дифракционными картинами от отдельных зерен, что однако трудно сделать в случае наноструктур. В связи с этим в работе [121] для исследования малых искажений кристаллической решетки применялась методика, предложенная в работе [120], где картины Муара формировали искусственно. При этом использовали специальную сетку из строго параллельных линий, расстояние между которыми было близко к расстоянию между изображениями кристаллографических плоскостей исследуемого наноструктурного материала. Данная специальная сетка была напечатана на прозрачной пленке с использованием компьютера и лазерного принтера и для получения картин Муара накладывалась на электронно-микроскопические фотографии атомных плоскостей нанокристаллов. [c.66]
Такие исследования наноструктурных ИПД N1 с размером зерна 50 нм и интерметаллида А1 с размером зерна 70 нм показали [121], что лин

www.chem21.info

ZION WILLIAMSON, ИЛИ КАК ПРЫГАТЬ ЗА 40 ДЮЙМОВ ПРИ 130 КГ? — Train Hard, Train Smart


Спасибо, что поделились!

Zion Williamson (имя читается как «Зайон»), родился 9 июля 2000 года, то есть, ему сейчас всего 18 полных лет. При этом, его рост составляет 201 см, а вес, по некоторым оценкам, доходит до 130 кг!

Он проводит свой первый сезон за студенческую команду по баскетболу университета Дьюк, и уже считается главным претендентом на первый выбор в драфте НБА 2019 года.

Несмотря на свои габариты, Зайон известен своим большим вертикальным прыжком и общим атлетизмом.

К сожалению, точных цифр назвать нельзя, однако, судя по всему, его вертикальный прыжок с разбега составляет примерно 100 см (42 дюйма). Поэтому, он легко бьет сверху со штрафной линии. Для его габаритов (да и вообще) это чудовищно круто. Но каким образом он достигает таких результатов?

ВЕРТИКАЛЬНЫЙ ПРЫЖОК С МЕСТА

Начнем со «скучной» части – прыжок с места. По моим предположениям, с места Зайон выпрыгивает на около 90 см. Что уже говорит о том, что его прыжок – это больше производная чистых мышечных усилий, а не эластичности.

При уходе в подсед, Зайон синхронно отводит руки назад, вместе с подседом. Его подсед начинается с наклона корпуса, и отведения таза назад. Взгляд все время направлен на цель (планку).

В нижней точке, торс атлета достаточно сильно наклонен, таз отведен назад. Вместе с тем, колени выходят вперед достаточно сильно, и сильно согнут голеностопный сустав. Зайон прыгает, используя все суставы низа тела, и окружающие их мышцы, для максимальной мощности.

Отметьте, что его руки идут впереди низа тела – ключевой аспект во всех вертикальных прыжках.

В конце отталкивания, его тело выпрямлено практически в вертикальную линию. Это показатель эффективности – вектор его усилий вертикален, а значит, в этом же направлении и будет ускоряться его ЦМТ.

Он тянет обе руки вверх, а при приближении к пику – выводит одно плечо выше другого, чтобы достать максимально высоко.

ВЕРТИКАЛЬНЫЙ ПРЫЖОК С РАЗБЕГА

Старт

Прыжок Зайона с разбега примечателен тем, что его разбег составляет буквально пару шагов. Это хорошо, поскольку помогает ему высоко прыгать в игровых ситуациях, когда места и времени для длинного разбега порой нет.

Чтобы хорошо прыгать после короткого разбега, нужно уметь быстро набирать скорость с нуля. В этом помогают физические данные, а также грамотная техника разбега.

Уже на старте, его тело наклонено вперед, как и голень. Это переносит его ЦМТ вперед, что необходимо для ускорения.

После первого шага, мы видим, под каким углом располагается голень его левой ноги.

Вход в подшаг

Зайон входит в подшаг с левой ноги, как типичный правша. Можно заметить, как сильно наклонена голень левой ноги перед тем, как он войдет в подшаг. Это происходит потому, что требуется проявить большие горизонтальные силы, чтобы подшаг был максимально длинным (о причинах этого чуть позже). Его руки свободны, и готовы совершить мах назад.

Итак, фаза полета в подшаге. Подшаг – это, на самом деле, не «шаг», как можно подумать из названия. Это своего рода прыжок с одной ноги на другую. Это, во-первых, увеличивает длину подшага, а во-вторых, увеличивает амортизационные силы при постановке ноги, что усиливает рефлекс растяжения-сокращения, и все отталкивание.

Руки отведены назад, правая нога выведена вперед, и готова к постановке.

Постановка правой ноги

Первая нога ставится на пятку. Пятка – это своего рода «тормоз», она позволяет снизить горизонтальную скорость после разбега. Однако, это не движение «впустую»: снижение горизонтальной скорости переходит в напряжение мышц и сухожилий ноги. Нога ставится впереди ЦМТ, чтобы направление силы было назад (торможение). Первым пола касается нижняя наружная сторона пятки. Корпус наклонен вперед. Руки находятся в пиковой точке позади.

Постановка левой ноги

Левая нога ставится на носок, поскольку основное поглощение энергии выполнила правая нога, и тут пятка будет лишь замедлять прыжок атлета. К тому времени, правая нога также перекатывается на носок.

Заметно, что при постановке второй ноги, происходит горизонтальное перемещение таза атлета, с выходом коленей вперед. Это финальная фаза амортизации (торможения) от скорости разбега. В этот момент, происходит сильное накопление энергии в квадрицепсах.

Постановка левой ноги осуществляется через наружу. Так происходит, потому что угол в колене остается постоянным. Если бы нога проносилась строго вниз, она бы просто ударилась в пол. Лишнее сгибание/разгибание колена занимает слишком много усилий и времени – теряется напряжение.

Из-за этого, если посмотреть на его постановку фронтально, то можно заметить, что голень его левой ноги наклонена вовнутрь, и это часто классифицируют как «завал колена». Однако, это лишь легкая внутренняя ротация в тазобедренном суставе.

После постановки левой ноги, руки Зайона уже идут вверх (прошли вертикальную линию).

Нижняя позиция

В нижней точке, перед тем, как ЦМТ начнет подниматься вверх, Зайон находится в положении четверть-приседа. Именно для этого отчасти и нужен широкий подшаг. Ведь в прыжке с двух ног с разбега нет фазы опускания как таковой – опускание достигается за счет широкого шага.

Его позиция отличается от таковой при прыжке с места. Колени выведены вперед чуть меньше, таз сзади, а наклон корпуса небольшой. Эта позиция «сидения на стуле» достигается за счет инерции разбега. При прыжке с места, такая позиция приведет к завалу тела назад, и потере баланса.

Отталкивание

При отталкивании, происходят то же, что и в вертикальном прыжке с места: максимальное разгибание всех суставов. Плечи, таз, колени и голень образуют строгую вертикальную линию (даже лучше, чем в прыжке с места у Зайона). Это обеспечивает вертикальное приложение силы, а значит, такое же направление полета ЦМТ.

Позиция стоп

Если посмотреть на позицию отталкивания спереди, мы увидим наклон стопы вовнутрь. Причем, это касается как правой, так и левой ноги. Обе ноги, естественно, к этому моменту уже стоят на носках.

Смысл такой пронации состоит в том, что это переносит больше нагрузки на большой палец ноги, который является самым сильным. Хотя сам большой палец не вносит большого вклада в силу толчка, он является более сильным звеном, через которое можно пропустить больше силы от мышц голени, колена и бедер, без их потери.

Смещение акцента на другие пальцы привело бы к тому, что они просто «провалились», не передав энергию от мышц в пол.

Касание объекта

При касании объекта, Зайон очень хорошо наклоняется. Кстати, касается он почему-то левой рукой, хотя и прыгал все время с «правого» подшага.

Он максимально поднимает левую лопатку и плечо, чтобы увеличить касание. Правая сторона тела при этом опускается. В итоге, общая масса тела не перемещается вверх или вниз (в безопорном полете это невозможно), но рука, которая осуществляет касание, реально оказывается выше. Что, безусловно, полезно не только на тесте, но и в игре, когда нужно достать высокий мяч при блокшоте, или забить сверху через защитника.

Стратегия разгона

Зайон стоит под прямым углом к стойке, слева от нее (стойка, соответственно, справа). Его правая нога впереди, перед первым шагом.

Шагом на левую, он уходит на 45 градусов вправо. И следующим шагом (подшагом), он докручивает еще 45 градусов, теперь находясь параллельно стойке.

Таким образом, весь разбег – это своего рода, дуга.

Параллельное отталкивание

Вход в подшаг с разворотом – это типично для большинства хороших прыгунов с двух ног.

Результатом этого часто становится то, что вторая нога оказывается чуть впереди первой, и атлет прыгает боком. Это удобно, если вы делаете подшаг как правша, и будете бить сверху правой: она окажется чуть позади.

Зайон же, выполняет подшаг в стиле правши, но касается левой. Поэтому, его конечная стойка параллельна: вторая нога лишь незначительно впереди первой.

Приземление

Приземление – это тот момент, когда опорно-двигательный аппарат прыгуна испытывает максимальные перегрузки. Все дело в том, что во время приземления, сила тяжести ускоряет атлета, тогда как во время самого отталкивания, она оказывает атлету сопротивление.

Зайон приземляется сначала на правую ногу. Это происходит естественным образом, потому что он тянулся левой рукой, и левая нога при этом выкидывается вперед. Обратите внимание, что он встречает землю на относительно прямой ноге, и через носок.

Затем, пятка опускается – Ахиллово сухожилие поглощает энергию. Вместе с этим, его вторая нога уже тоже начинает амортизацию.

Запомните – приземления на одну ногу не редкость, если не сказать больше: это часть игры, когда вы почти всегда будете тянуться вверх одной рукой. И это не есть плохо. Плохо – это когда атлет долго остается на одной ноге, и пытается поглотить значительные вертикальные силы одной ногой.

Тут, Зайон отлично амортизирует одной ногой, и очень быстро переносит вес тела на вторую. После чего, он выполняет несколько амортизирующих шагов, чтобы на каждом из них поглотить часть энергии, вместо того, чтобы пытаться сделать это за один раз. Прекрасно.

ВЫВОДЫ

Зайон – это мощный и атлетичный прыгун, который полагается на чистую мощность мышц. Благодаря этому, он высоко выпрыгивает с места, а с разбега ему достаточно лишь пары шагов.

При прыжке с места, он синхронно отводит руки назад, и опускается вниз, отводя таз назад. В нижней точке, все его сегменты (корпус, таз, колено, голеностоп) согнуты, для производства максимальной мощности. Мах руками идет впереди низа тела.

При старте, он наклонен вперед, чтобы хорошо ускоряться. Его голени также наклонены вперед, и он толкается назад для ускорения тела.

Зайон входит в подшаг с левой ноги, как правша. Его вход в подшаг очень мощный, словно прыжок в длину. Подшаг выполняется длинным, чтобы оказаться в достаточно низкой нижней точке. Во время фазы полета в подшаге, руки максимально отведены назад.

Он жестко ставит правую ногу впереди себя на пятку, чтобы погасить горизонтальную скорость, и перевести ее в накопленную энергию мышц и сухожилий.

Свою левую ногу Зайон подставляет на носок и через бок, чтобы не терять время на ее сгибание/разгибание. Она немного завалена вовнутрь, из-за внутренней ротации тазобедренного сустава.

После подстановки второй ноги, его колени слегка уходят вперед, таз не поднимается. Это финальная фаза амортизации.

В нижней точке, его колени впереди, таз отведен назад, но корпус лишь незначительно наклонен вперед.

Его стопы пронированы, чтобы перенести нагрузку на большие пальцы ног, как самые сильные.

Во время отталкивания, он максимально разгибает корпус, таз, колени и голеностопный сустав, оказываясь в вертикальном положении. Руки совершают мах раньше, чем начинается само отталкивание.

При касании объекта, он поднимает рабочую руку, плечо и лопатку вверх, опуская другую сторону. Это не меняет положение ЦМТ, но обеспечивает более высокое касание объекта.

Он разгоняется по дуге, поворачиваясь на 90 градусов за два шага.

После подшага, его вторая нога лишь незначительно оказалась впереди первой, из-за того, что он выполнял подшаг правши, но тянулся к планке левой рукой.

На приземлении, Зайон начинает амортизацию с одной ноги, постепенно поглощая энергию шагами.

 

Хотите улучшить свой вертикальный прыжок за 12 недель с силовыми тренировками? Обратите внимание на программу «Система Полета» на русском языке с полной видеобазой упражнений - https://vk.com/market-55108373?w=product-55108373_1855926

Спасибо, что поделились!

abulahov.com

Отправить ответ

avatar
  Подписаться  
Уведомление о